COSMOS-1X型熒光X線鍍層測厚儀（膜厚計）

產品型號：COSMOS-1X
更新時間：2024-03-18
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產品介紹

COSMOS-1X型熒光X線鍍層測厚儀（膜厚計）

                                                          ●Windows下中文操作界面
                                                          ●緊湊小巧，低成本
                                                          ●解析度0.001μm
                                                          ●zui小測量面積0.1mm?
                                                          ●可測量合金層的厚度以及成分比例
                                                          ●對于多層鍍層可測量每一層精確厚度
                                                          ●可通過X線進行元素光譜分析
                                                          ●適用對象：IC導線架、封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業

各機型規格參數：

機型			手動測量臺
測量主體	測量臺尺寸（mm）		170＊110
	移動量	X（mm）	70
		Y（mm）	70
		Z（mm）	50
	測定物zui大高度（mm）		45（可調整）
	尺寸（mm）		362（W）＊425（D）＊486（H）
	重量（kg）		44.2
	樣品zui大何重（kg）		3
電源			AC100V±10V（option AC115V、AC230）

儀器特點：

      搭載MS-WINDOWS系統（*的操作性與高精度測定）與IBM PC個人電腦相容
      準值器5種孔徑內藏式：
          zui小的準值儀孔徑僅0.1 mm，可測定極微小的部品。
              標準：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規格可供選購。
                    0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
                    0.05＊0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
      小型化設計：占體積小，采購成本低，適用于小型工件。
      *的顯示功能：能顯示測量具體位置，可將照片打印輸出。
      充實測量報告的作成功能：多種統計功能，輕松提供完善的測量報告。
      自我診斷功能及X線管保養功能：讓您時刻了解儀器使用情況，方便保養維護。